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      飛納電鏡邀您參與中國有色金屬4期優秀青年學者論壇
      點擊次數:6965 發布日期:2019-8-2  來源:本站 本站原創,轉載請注明出處

      為了探索新型金屬材料與材料加工過程設計的基礎理論與技術前沿,加強學科的交叉融合,促進有色金屬材料與材料加工學科年輕人才成長與交流,拓寬有色金屬青年人才國際視野,中國有色金屬學會青年工作委員會、中北大學和太原理工大學定于 2019 年 8 月 4 - 6 日在山西省太原市召開 “中國有色金屬第 4 期優秀青年學者論壇”。

      時間:2019 年 8 月 4 日 - 6 日
      地點:太原黃河京都大酒店

      四個分論壇

      第一論壇:材料設計與成型計算模擬青年學者論壇
      第二論壇:輕合金設計及加工青年學者論壇
      第三論壇:非晶與高熵合金青年學者論壇
      第四論壇:增材制造與粉末冶金青年學者論壇

      掃描電鏡表征合金材料

      背散射探頭成像可以顯示出材料的成分襯度,但背散射探頭屬于被動信號采集,所以背散射成像對燈絲亮度有著極高的要求。只有在燈絲亮度足夠高的情況下才能獲取良好的背散射成像照片。

      圖1. 為金相樣品的背散射成像。沿著箭頭方向從內到外可以看到 4 種不同的成分襯度,且分界線非常明顯。代表這 4 個位置元素含量各不相同,并且沿著箭頭方向,重元素占比越來越低。

       

      圖 1 金相樣品背散射成像

       

      圖 2 汽車緊固件失效分析:沿晶斷裂組織 

       

           

      二次電子圖像                                               背散射電子圖像

       

      圖 3 鍍層分析

       

          

      氧化鈦涂層截面                                            鎂合金金相分析

       

      圖 4 使用飛納電鏡軟件 “超大視野自動全景拼圖” 進行缺陷檢查。

       

                  

       

       

      粉末冶金

       

      使用掃描電鏡檢測粉末的形貌、大小、均勻性等。

       

       

      顆粒統計分析測量系統

      快速、易用和超清晰成像質量的飛納臺式掃描電鏡,加上顆粒統計分析測量系統的顆粒圖像分析功能,為用戶檢驗、分析各種各樣的顆粒、粉末樣品創造了一個強大工具。

       

      飛納電鏡將出席本次會議,期待與各位參會學者交流。

      索取資料
      相關公司:復納科學儀器(上海)有限公司
      聯系電話:400-857-8882
      E-mail:cici.yang@phenom-china.com



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